Laboratorinė įranga

  • Naujienos

    23

    12-2014

    Nauja 3D paviršių metrologijos sistema

    Leica microsystems pristato 3D paviršių metrologijos sistemą – DCM8. Sistema vienija aukštos raiškos konfokalinę mikroskopiją ir interferometriją viename įrenginyje.

    Leica Microsystems pristato mikroskopą Leica DCM8, kuris skirtas nedestrukciniam paviršių profiliavimui trimatėje erdvėje. Prietaisas yra sudarytas iš konfokalinio mikroskopo ir optinio profilometro apjungiant abi technologijas į vieną įrenginį. Tokiu…

E-parduotuvė