Analitinė įranga

Rentgeno spindulių difrakcijos spektrometrai

Rentgeno spindulių difrakcijos spektrometrai

Aprašymas

Rentgeno spindulių difrakcija (XRD) yra rentgeno spindulių bangos ir dalelės dvilypumu paremtas kristalinių medžiagų struktūros analizės metodas. Pagrindinė šios nedestruktyvios ir plačiai panaudojamos analizės technikos paskirtis yra medžiagų struktūros identifikavimas ir charakterizavimas pagal jai būdingą rentgeno spindulių difraktogramą. XRD analizė plačiai naudojama tiek mokslinėse laboratorijose, tiek pramonėje, kur yra tiriama organinių medžiagų struktūra, puslaidininkiai, plonos plėvelės, gryni metalai ir jų lydiniai bei mineralai.

Skirstymas

Rentgeno spindulių difrakcijos spektrometrai
SUSISIEKITE

Susijusios mokslo ir veiklos sritys

Mokslinės laboratorijos
E-parduotuvė

Informuojame, kad svetainėje yra naudojami slapukai (angl. cookies). Toliau naršydami svetainėje arba paspausdami mygtuką OK, Jūs sutinkate su slapukų naudojimu. Daugiau informacijos galite rasti čia.

The cookie settings on this website are set to "allow cookies" to give you the best browsing experience possible. If you continue to use this website without changing your cookie settings or you click "Accept" below then you are consenting to this.

Close