Rentgeno spindulių fluorescencijos spektrometrai
Aprašymas
Rentgeno spindulių dispersijos fluorescencijos technologija (ED-XRF) leidžia itin paprastai, ekonomiškai ir tiksliai atlikti daugelio medžiagų cheminės sudėties analizę. Šis metodas yra nedestruktyvus ir patikimas, jo taikymui praktiškai nebūtinas išankstinis mėginio paruošimas, o analizuojami gali būti tiek kieti kūnai, tiek skysčiai, tiek milteliai. ED-XRF spektrofotometrai aptinka daugumą cheminių elementų nuo natrio iki urano, pasižymi milijonines dalis siekiančia jautrumo riba ir vieno matavimo metu išmatuoja iki 100% siekiančias visų aptinkamų cheminių elementų koncentracijas.
Skirstymas
bangos ilgį išsklaidantys spektrometraienergiją išsklaidantys spektrometraispetrometrų priedai
