Analitinė įranga

Rentgeno spindulių fotoelektronų spektrometrai

Rentgeno spindulių fotoelektronų spektrometrai

Aprašymas

Rentgeno spindulių fotoelektronų spektrometrai (XPS) yra kompaktiški analitiniai moksliniai prietaisai, paremti fotoelektronų spektroskopijos principu. XPS yra kiekybinė paviršiaus spektroskopinės analizės technika, kurią taikant galima ne tik tūkstantųjų dalių tikslumu ištirti jo cheminę sudėtį, bet ir atlikti būvio bei paviršių sudarančių elementų elektroninių būsenų analizę. K-alfa XPS sistemoms būdingas nepralenkiamas našumas, nedideli eksploatacijos kaštai, paprastas naudojimas ir kompaktiškumas lemia puikų šių sistemų tinkamumą naudojimui daugelio naudotojų aplinkoje.

Skirstymas

priedai ir aksesuaraiRentgeno spindulių fotoelektronų spektrometrai
SUSISIEKITE
E-parduotuvė

Informuojame, kad svetainėje yra naudojami slapukai (angl. cookies). Toliau naršydami svetainėje arba paspausdami mygtuką OK, Jūs sutinkate su slapukų naudojimu. Daugiau informacijos galite rasti čia.

The cookie settings on this website are set to "allow cookies" to give you the best browsing experience possible. If you continue to use this website without changing your cookie settings or you click "Accept" below then you are consenting to this.

Close