Aprašymas
Dauguma cheminių junginių pasižymi optiniu aktyvumu ir suka šviesos poliarizacijos plokštumą. Plokštumos sukimo kryptis ir kampas matuojamas poliarimetrais ir naudojamas tokių medžiagų charakterizavimui. Tikslų matavimą klasikiniais mechaniniais poliarimetrais atlikti gali tik patyręs operatorius, o matavimui būdingos didelės laiko sąnaudos. Modernūs automatiniai poliarimetrai šį procesą supaprastina ir paspartina – tiksli sukimo kampo vertė gaunama vos per kelias sekundes. Investicija į automatinį poliarimetrą greitai atsiperka padidėjusiu laboratorijos produktyvumu.