Rentgeno spindulių difrakcijos spektrometrai
Aprašymas
Rentgeno spindulių difrakcija (XRD) yra rentgeno spindulių bangos ir dalelės dvilypumu paremtas kristalinių medžiagų struktūros analizės metodas. Pagrindinė šios nedestruktyvios ir plačiai panaudojamos analizės technikos paskirtis yra medžiagų struktūros identifikavimas ir charakterizavimas pagal jai būdingą rentgeno spindulių difraktogramą. XRD analizė plačiai naudojama tiek mokslinėse laboratorijose, tiek pramonėje, kur yra tiriama organinių medžiagų struktūra, puslaidininkiai, plonos plėvelės, gryni metalai ir jų lydiniai bei mineralai.
Skirstymas
Rentgeno spindulių difrakcijos spektrometrai
