Analitinė įranga

Rentgeno spindulių fotoelektronų spektrometrai (XPS) yra kompaktiški analitiniai moksliniai prietaisai, paremti fotoelektronų spektroskopijos principu. XPS yra kiekybinė paviršiaus spektroskopinės analizės technika, kurią taikant galima ne tik tūkstantųjų dalių tikslumu ištirti jo cheminę sudėtį, bet ir atlikti būvio bei paviršių sudarančių elementų elektroninių būsenų analizę. K-alfa XPS sistemoms būdingas nepralenkiamas našumas, nedideli eksploatacijos kaštai, paprastas naudojimas ir kompaktiškumas lemia puikų šių sistemų tinkamumą naudojimui daugelio naudotojų aplinkoje.