Nauja 3D paviršių metrologijos sistema
gruodžio 23, 2014Leica microsystems pristato 3D paviršių metrologijos sistemą – DCM8. Sistema vienija aukštos raiškos konfokalinę mikroskopiją ir interferometriją viename įrenginyje....
Informuojame, kad svetainėje yra naudojami slapukai (angl. cookies). Toliau naršydami svetainėje arba paspausdami mygtuką OK, Jūs sutinkate su slapukų naudojimu. Daugiau informacijos galite rasti čia.
The cookie settings on this website are set to "allow cookies" to give you the best browsing experience possible. If you continue to use this website without changing your cookie settings or you click "Accept" below then you are consenting to this.