Tag word “surface metrology”, 1 results found

  • Nauja 3D paviršių metrologijos sistema

    gruodžio 23, 2014

    Leica microsystems pristato 3D paviršių metrologijos sistemą – DCM8. Sistema vienija aukštos raiškos konfokalinę mikroskopiją ir interferometriją viename įrenginyje. Leica Microsystems pristato mikroskopą Leica DCM8, kuris skirtas nedestrukciniam paviršių profiliavimui trimatėje erdvėje. Prietaisas yra sudarytas iš konfokalinio mikroskopo ir optinio profilometro apjungiant abi technologijas...

    Skaityti daugiau
E-parduotuvė

Informuojame, kad svetainėje yra naudojami slapukai (angl. cookies). Toliau naršydami svetainėje arba paspausdami mygtuką OK, Jūs sutinkate su slapukų naudojimu. Daugiau informacijos galite rasti čia.

The cookie settings on this website are set to "allow cookies" to give you the best browsing experience possible. If you continue to use this website without changing your cookie settings or you click "Accept" below then you are consenting to this.

Close